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杭州高裕電子科技股份有限公司

產(chǎn)品展示

Product Demonstration

Product Demonstration

產(chǎn)品展示

高溫反偏老化測試系統(tǒng)(單管、Ta型、保險絲保護)

符合標準:

AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標準。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的二極管、三極管、場效應管、可控硅、IGBT單管等器件進行高溫反偏試驗(HTRB)。

技術(shù)特點:

實時監(jiān)測每個試驗器件的漏電流。

全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel

試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


技術(shù)性能

表格 p14.png